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士兰微、平湖实验室:8英寸SiC项目迎来关键节点
第三代半导体风向 | 2025-07-01
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插播:天科合达、天岳先进、同光半导体、烁科晶体、泰坦未来、晶瑞电子、芯聚能、三安半导体、安海半导体、华卓精科、快克芯装备、合盛新材料、京航特碳、恒普技术、奥亿达新材料、凌锐半导体、中电化合物、昕感科技、东尼电子、西格玛、铭扬半导体等已确认参编《2025碳化硅衬底与外延产业调研白皮书》及《2025碳化硅器件与模块产业调研白皮》,参编咨询请联系许若冰(hangjiashuo999)。

在碳化硅领域,大尺寸晶圆的研发与应用始终是推动产业变革的关键力量。近日,国内又有两个8英寸项目迎来突破,有望为产业发展注入强劲动力:

士兰微:

8吋项目首台设备提前搬入

6月23日,据中建三局一公司官微透露,由他们承建的厦门士兰微8英寸碳化硅功率器件芯片制造生产线项目(一期),已提前搬入首台设备。

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文章进一步透露,该项目位于福建省厦门市,总建筑面积 23.45万平方米,历时110天顺利实现阶段性目标,建成后将极大提升士兰微碳化硅芯片制造能力。

据“行家说三代半”此前报道,今年3月,士兰微在官微宣布厦门士兰集宏8英寸碳化硅功率器件芯片制造生产线项目(一期)顺利封顶。

士兰微电子董事会秘书、副总裁陈越表示,他们总投资70亿元的一期项目,将尽最大努力争取在今年年底实现初步通线,明年一季度投产,到2028年底最终形成,年产42万片8英寸SiC功率器件芯片的生产能力。

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深圳平湖实验室:

8吋SiC平台流片成功

6月27日,深圳平湖实验室在官微透露,他们联合深圳市鹏进高科技有限公司,成功攻克1200V沟槽栅SiC MOSFET芯片的核心技术难题,构建了8英寸工艺平台,实现了自主知识产权的高性能1200V沟槽栅SiC MOSFET芯片流片成功。

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8英寸高性能沟槽栅SiC MOSFET结构(专利)示意图及芯片剖面图

据了解,此次核心发明专利(专利公开号:CN118610269A)已经获得授权,其突破性成果具有诸多亮点:

静态性能指标实现了业内领先的低比导通电阻(

本芯片反向击穿电压大于1500V,阈值电压稳定在3.3V,在8英寸晶圆上实现了具有商业价值的良率展示。

成功在8英寸晶圆上攻克包括MeV级高能离子注入、定晶向刻蚀、栅氧区域厚度分布调制、低缺陷高温退火、低电阻欧姆接触、高可靠性钝化等多项SiC沟槽工艺难题,达到量产级工艺控制力。

成功建成国内领先、国际先进水平的全流程自主可控8英寸沟槽栅SiC MOSFET工艺平台,1200V 40mΩ等级沟槽栅SiC MOSFET晶圆CP良率90%以上,单片最高达到96%。

该工艺平台的仿真制造对齐工作已基本完成,从核心元胞结构到终端保护结构,全套动静态仿真与实测数据吻合度>95%

据了解,深圳平湖实验室建有全国首条集8吋SiC/GaN科研和中试于一体的功率半导体开放共享平台,覆盖第三代功率半导体衬底、外延、器件制备、封装测试、失效分析、可靠性验证全链条,建成先进的8英寸工艺平台,具备向下兼容能力。

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本文发自【行家说三代半】,专注第三代半导体(碳化硅和氮化镓)行业观察。

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