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第696篇推文
AMOLED显示屏生产过程中由于材料、工艺等原因，会有部分产品出现画面显示亮度不均的现象，也就是Mura，这种亮度不均的斑点痕迹会给视觉上带来不舒适感，留有这种痕迹的产品无法达到终端客户的规格要求，一般只能报废或降级处理。针对AMOLED生产工艺的外部补偿系统是将存在Mura不良的显示屏通过先进的子像素级光学成像技术和软件算法消除Mura纹 （即Demura，相当于给显示屏做美颜），使得显示屏的显示质量达到面板厂出货规格要求，提高显示屏量产的良率。
AMOLED Demura包括如下步骤：
1.采图：将AMOLED屏体点亮，导入不同画面，利用补偿设备上的CCD相机采图，并自动识别子像素排列关系；
点亮面板后需要被检测的画面根据不同面板厂的要求，一般是不同的，常见的有32、64、96、160、192、224灰阶的RGB图像，共18张图。
有些面板厂的Demura只对亮度差异进行补偿，不对色彩差异进行补偿，这种Luminance Demura一般只需要检测灰阶画面，而且由于不同灰阶时呈现的Mura不同，一般会检测高中低灰阶的Mura，最后Demura数据平均，当然具体的设定不同面板厂会根据自己的实际需求进行选择。
有些面板厂进行的是比较全面的Color Demura,即不仅对亮度同时对色度差异也进行补偿。此类型的color Demura的检测画面，有些采用灰阶画面，有些采用RGBW画面，不同面板厂根据技术和需求选择不同
2.采集的图片导入一台高性能PC（PC机上已经安装Demura工具软件）
3.利用PC上的Demura工具软件进行数据提取（提取原始数据）、补偿（计算Mura的区域、Mura边界侦测并生成补偿数据）、压缩 （将生成的补偿数据进行有效的压缩，以便于存储）
Mura检测异常复杂，IC厂家、面板厂家和Demura设备厂家都有开发自己的Mura检测算法，这也是自己的核心技术。详细内容可以参考如下专利：
“CN106339196B-DeMura表的数据压缩、解压缩方法及Mura补偿方法”
“CN108492776A-一种AMOLED屏亮度不均智能外部光学补偿方法”
4.将压缩过的数据保存在Flash中；
5.当Demura功能开启时，从Flash提取数据到Driver IC内部SRAM中，IC内部将数据解压得到完整的补偿数据，并将补偿数据与应用端送来的原始显示数据叠加，生成新的数据传送到Panel进行显示，确认Demura补偿效果。
在线Demura的流程图如下所示：
Mura区域的计算过程一般包括：
1、求平均值：基于原始的Demura表计算表中数据的平均值；
2、比较：将原始的Demura表中的每一个数据与计算得到的平均值进行比较；
3、判断：当被比较的数据与平均值的差值的绝对值大于预设的阈值时，确定与该被比较的数据对应的子像素包含在Mura区域内；当被比较的数据与平均值的差值的绝对值小于等于预设的阈值时，确定与该被比较的数据对应的子像素不包含在Mura区域内。其中，预设的阈值可以根据显示面板的显示效果进行确定。
Demura算法原理简单描述为：把偏亮的区域变暗，或者偏暗的区域变亮、或者将有色偏的区域消除，最终的效果是使面板不同区域显示的亮度和色彩大体相同（纯色画面）
经过Demura后的模组点亮后，可以看到显示效果得到了明显的改善。
文章来源：模切圈
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