半导体器件作为现代科技社会的一大进步，却因为各种原因停滞不前，其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题，多种多样的环境因素，五花八门的故障形式，使得制造商不知所措，针对此问题，金鉴采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出高精智能化的测试体系，专为电子产品FA设计，整合出一套显微红外热点定位测试系统，价格远低于国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”。
金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。
红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。
存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术，可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式，通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度，软件数据算法改善信噪比。在IC分析中， 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管，以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的，无需遮光箱。
金鉴显微红外热点定位测试系统优点：
高灵敏度的锁相热成像缺陷定位；
配合电测，XRAY等对样品作无损分析；
选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片；
对短路及漏电流等分析效果佳；
0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗；
其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算；
相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受；
与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：看附图。
金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCH。
OBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻，但挑战性低于10欧姆。
金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率。
金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试。
金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围，降低漏电阻。
金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常。
金鉴显微红外热点定位系统测试依据：GB/T 28706-2012 无损检测 。
金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷。
热点锁定（lock in）功能：温度最高点定位聚焦过程只需要一秒。
应用领域：
PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、热梯度。
金鉴显微红外热点定位测试系统特色功能：
1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。
LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微红外热点定位测试仪以及特殊配件可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。
应用领域：
PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、热梯度。
金鉴显微红外热点定位测试系统特色功能：
1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。
LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微红外热点定位测试仪以及特殊配件可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。
4.热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像
专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。
5.支持12个点，12个框和3条线的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。
6.手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。
手机可直接录制1000帧热像全辐射视频；温变过程实时捕捉；没有PC也能自动采集数据。
7. 定制化的热像分析软件
金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR针对LED产业开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，更适合LED失效分析、研发测试，纠正多种错误测温方式，开发新的应用领域。具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。
8. 失效热点定位分析
（附上详情链接：http://www.gmatg.com/shebei-22.html）
匿名