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显微热分布测试系统

方博士,您好!能简单的介绍一下您们实验室研发的显微热分布测试系统是怎样的吗?谢谢!
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LED光源是LED产品的心脏,主要功能就是把电能转化成光能,因此注重光品质尤其重要!而当前,芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中,仅仅是针对光源进行相对简单的测量,获得整体的亮度、波长和电压等参数,并不能精确地描述光源的光分布情况,这样容易导致光源的色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题,甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计。

针对以上情况,金鉴实验室自主研发生产出显微光分布测试系统,专注于LED产业改良打造,先已演化到第四代,而且价格从150万降到几十万!订货期3个月,欢迎选购!

应用领域:

LED芯片电极设计、LED芯片规格电流优化、芯片出光率、LED芯片来料检验、LED芯片失效分析、灯珠灯具的光线追迹、面板灯发光均匀度、汽车照明灯发光均匀度、灯具发光均匀度。

此设备与近场光学测试设备的区别:看下图。

近场光学设备与金鉴显微光分布探头对LED光敏感度差异对比:看下图。

金鉴显微光分布探头对光敏感度较高,能分辨细小的光强差异,因此成像也更细腻。

金鉴显微光分布与传统设备大PK:看下图。

金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试,分辨率可达1微米,其具有3D功能,可观测芯片出光效果。

设备测试内容:

用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布,通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度,不需要使用标准灯进行校准。

系统特点:

1.模拟器件实际使用环境进行测试

LED光源的光热性能受温度的影响较大,脱离实际环境所测试的结果准确性较差,甚至毫无意义。而金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备有高低温数显精密控温平台,能稳定控制灯珠引脚和基板温度,模拟实际使用环境进行测试,提供更为真实有效的数据。如下图所示,固定其他条件不变,分别控制引脚温度为80℃和120℃,测试得到的光分布图,不同温度下芯片的发光强度相差较大。该测试平台还配备有水冷降温系统,在100s内可将平台温度由100℃降到室温,有效解决了样品台降温困难的问题,该系统还可以稳定控制样品台温度维持在0℃-室温,适用于部分需要保持低温工作的器件。

2.对LED芯片设计提供参考依据

技术背景:

当前,芯片厂在LED芯片电极图案设计过程中,仅仅是针对芯片进行相对简单的测量,获得整体的亮度、波长和电压等参数,并不能精确地描述芯片的光分布情况,这样容易导致芯片的色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题。而由于缺乏专业的测试设备和测试经验,LED芯片厂对芯片发光不均匀的现象束手无策,没有直观的数据支持,无法从根本上改进芯片品质。

金鉴实验室显微光分布测试系统,方便客户了解芯片性能,认清芯片电极设计的方向。通过LED芯片发光均匀度测试,可以从特定角度拍摄芯片影像,建立一个芯片亮度输出的发光图像,接收被测芯片的光信号,提供芯片发光效果图和光强数据。其中,芯片发光效果图能直观地体现出芯片发光的均匀程度,判断电极图案设计的优劣,明确改进方向,优化电极图案。

发光均匀度评判电极图案设计的优劣:

芯片的电极图案对芯片的整体亮度、发光效率、电压大小影响较大。根据芯片的发光均匀度进行电极图案优化后,可以改善电流扩展分布能力,提高电流分布的均匀性,减小电流聚集效应,降低工作电压,减小串联电阻,减少焦耳热的产生,减弱红移现象,从而提升芯片的可靠性。

优化电极图案的过程中,要兼顾电流扩展性和遮光面积。例如,对于电极图案设计,可增加低亮度区域金手指的长度,来增加电流扩展性,提升低亮度区域的亮度;同样,也可以缩小高亮地区的金手指宽度,减少该区域的电流扩展性,降低亮度,以达到提高芯片整体发光均匀度的目的。又例如,对于低亮度区域还可以设置电流扩展层或增加电流扩展层厚度,以增加电流扩展性;相反,对于高亮度就可以设置电流阻挡层来减小电流密度,以形成均匀分布的电流,同样可以达到提高芯片整体发光均匀度的目的。一般,在发光均匀度满足要求的情况下,要尽量减少遮光面积,提升发光效率。

(案例分析看链接:http://www.gmatg.com/shebei-21.html)






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认证行家
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剑桥大学材料学博士,其所创立的金鉴检测已是中国最大的LED失效分析中心,占据市场80%的份额。方博士在金鉴LED失效案例大数据的基础上,独创LED体检体系,帮助LED工厂在生产阶段查找物料缺陷和工艺隐患,由常规的“客户投诉——失效分析——改善”模式转换为“发现隐患——改善”模式。方博士已有20多项专利,100多篇LED检测原创案例文章,每推出一篇文章都会被LED界各大媒体转载,数十万名读者阅读与收藏,帮助厂家规避品质风险,促进LED行业健康发展。
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