技术|Micro LED 显示需要哪些特殊的测试项目？

作为一个显示产品，Micro LED与传统的液晶背光光源的显示器在技术上有明显的不同，这就是，没有任何背光，显示器的每个像素都是独立的发光体。

为了优化显示品质，和研发需求，除了标准测量项目之外，还必须进行一些特殊的测量项目。

Micro LED近场光学特性

Micro LED 显示依赖于独立的显示像素，因此像素本身的品质，是提升显示品质的源头。

通过高精度的近场分布式光度计，测得 Micro LED 像素的四维光场分布，即 Ray file：

不仅可以全面评价像素光学特性，还可以将该近场文件导入仿真软件，进行深度分析和仿真优化。支持市场上几乎所有主流光学仿真软件，极大的提高研发效率。

使用测试到的 Ray 仿真计算的结果案例

用于 Micro LED 近场测试的 RiGO 801-uLED

更复杂的残影测试

如果部分像素比其他像素更频繁地使用，则可能发生暂时性残影或永久性的残影，出现重影现象。

尽管LCD 也有残影现象，也进行测试，但是由于 Micro LED 的颜色是由不同的发光材料实现的，因此，这种残影现象对不同的颜色，可能是不同的。

因此在进行残影测试评估时，需要尽可能考虑相关的影响因素。例如，你可能无法用同一个显示器来重现残影测量的结果。这些都带来了很大的挑战。

DeepGreyMura-图像颗粒度分析

在 Micro LED 显示技术中，各个像素都是独立的光源，存在像素之间亮度和色度不一致的情况。这会导致肉眼可见的低频和高频不均匀性。

在低灰度的情况下，这也被称为DeepGreyMura或颗粒度，也有定义为 DirtyMura，都是指高频的不均匀性。

对这些影响的校正被称为DeMURA。它需要每个子像素的亮度和/或色度值。可能还需要获得不同灰度和颜色条件下的这些信息。特别是在生产中，这种测量需要非常快。

通过测试 DeepGreyMura 来评估demura 的效果是必要的。

低频不均匀性则与传统测试的显示器的均匀性一致。

像素串扰及光学分辨率

Micro LED显示通常有非常高的像素密度，特别是作为微显示器件用于AR/VR虚拟显示。

除了常规的测试项目以外，对像素或子像素之间的相互干扰情况进行分析，进而进行针对性优化是提升显示品质的关键。

通过最新的斜线 MTF 法，进行光学分辨率测量可以准确地、客观地评价其光学清晰程度。