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STAr Technologies推出用于Micro-LED的高级集成测试系统
行家说Display · 2019-10-18
光学设备测试系统供应商STAr Technologies推出了Unicorn-LAIT,这是用于Micro-LED的新一代高级高通量测试测试仪。Unicorn-LAIT系列是先进的Micro-LED集成系统,具有并行测试仪器,探针台和探针卡,最适合测试Micro-LED和Mini-LED,以满足大规模生产的需求。
STAr Technologies推出用于Micro-LED的高级集成测试系统
STAr Unicorn-LAIT系列是LED高级集成测试仪,旨在实现经济高效的Micro-LED批量生产。Magic-A200e探针台可以对准多达6英寸的晶圆和探针卡,以进行自动探针测试。并行测试仪器将基于带PMU的STAr Taurus-LPX,能够并行执行48个至最多240个LED。STAr Unicorn-LAIT归因于高效的系统结构,适用于LED工业芯片制造商和光学设备制造商。
STAr Technologies推出用于Micro-LED的高级集成测试系统
Unicorn-LAIT Micro-LED系统还配备了EMI屏蔽腔,可为高速LED测试过程提供超低噪声的环境。Magic-A200e的闭环XYZ载物台和获得专利的同轴显微镜可确保在多LED步进以及高分辨率扫描和探测中获得最佳精度。多孔陶瓷卡盘带有正在申请专利的辅助卡盘,可进行清洁和接触检查,以增强LED测试性能。
STAr Technologies推出用于Micro-LED的高级集成测试系统
同时,Taurus-LPX是具有不同电压和电流范围的高通量参数测量单元(PMU),每个模块配置48个通道,最多配置五个模块。Taurus-LPX基于FPGA固件控制和高速ADC,能够执行高速并行测试,以确保最高的测试吞吐量,并具有良好的准确性和可重复性。
STAr Technologies推出用于Micro-LED的高级集成测试系统
STAr Aries-PCT探针卡使用寿命长多达96个探针可以接触多达48个LED(最多240个)的Multi-DUT LED测试探针卡。可以使用CDA设置此并行组件测试探针卡,以清除探针碎片和晶圆颗粒。可以将LED配置为满足VF,IF等不同的测试要求,而可以将特殊的高压探头配置为进行ESD测试。
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