成像亮度计是二维亮度测量以及图像均匀性分析的利器，广泛应用于显示、OLED以及汽车导光灯条等对于亮度或颜色均匀性有较高要求的领域。但随着测量需求的日益提高，传统的二维亮度和色度测量方法遭遇越来越多的挑战。

↑

需评估亮度、色度及其均匀性的应用场合

传统图像彩色亮度计存在的问题：

光谱失匹配问题凸显

↑

典型成像亮度计测量显示屏示意图

对于显示测量来说，传统二维亮度以及色度测量的光谱失匹配问题越来越受到重视：成像亮度计或彩色成像亮度计的探测器需通过采用模拟CIE1931光视效率曲线（V(λ)）以及CIE三刺激值（x(λ)/ y(λ)/ z(λ)）曲线，来模拟人眼的视觉响应，测量获得亮度、色品坐标等光色数据。然而在实际应用中，滤色片和标准响应曲线不可能做到完美匹配，均存在光谱失匹配。（如下图所示）

↑

光谱响应曲线与CIE 1931 配色函数曲线

如何解决这个难题？

光谱测量是颜色精确分析的关键

众所周知，利用光谱辐亮度L(λ)与CIE三刺激值曲线加权计算颜色参数不存在光谱失匹配误差，是较为精确的测量方法。因此，在显示屏、面板灯以及导光灯条等对颜色一致性要求较高的场合，利用图像区域内各点的光谱数据对颜色进行精确分析是非常必要的。

高光谱图像亮度计的优势：

图像亮度和颜色测量技术的突破

如何解决传统亮度和颜色测量方案的缺陷？我们汲取航空航天遥感技术的经验，将高光谱图像技术用于亮度和颜色测量，一次成像，可测量获取空间内每点的辐亮度数据，并快速获得三维图像亮度和颜色分布的测量结果，无光谱失配误差，评价更为全面，是图像亮度和颜色测量的重要突破。

↑

遥感领域的高光谱图像测量

什么是高光谱图像技术？

高光谱图像技术最大的特点是将成像技术和光谱探测技术相结合，在对目标的空间特征成像的同时，对每个空间像元经过色散形成几十乃至几百个窄波段以进行连续的光谱覆盖，最终获得“三维数据块”的测量结果。

↑

高光谱图像技术原理

↑

“三维数据块”的数据表达L(x,y,λ)

远方HIRC-3000高光谱图像亮度计：

相当于超 800万个 微型辐亮度计同时工作

HIRC-3000采用全新的高光谱图像设计专利技术，配置高清成像CCD，一次采样相当于超800万个微型辐亮度计同时工作，可获得图像内各点的辐亮度，亮度、颜色及均匀性的测量精度极高，完全颠覆了传统的亮度色度测量方案。

↑

远方HIRC-3000高光谱图像亮度计

高精度、高分辨率测量

超800万个微型辐亮度计同时工作，可获取图像内各点的辐亮度，光谱法对三维图像的颜色进行精确分析，避免了传统三刺激值法的光谱失匹配问题。

最丰富数据

可测得视场内任意点或任意区域的辐亮度、亮度、色坐标等参数，并准确分析整个或任意区域的亮度及色度均匀性。

↑

三维图像及各个波长维度下的亮度图像

极具操控性

采用专利技术，HIRC的高光谱实现无需机械扫描即可实现，稳定度和重复性更高。同时强大的软件功能，使得各项参数都能够自动被获取。

感谢您关注【远方光电】公众账号

微信号：everfine300306 期待您加入

国际光电检测设备专家